ความรู้เพิ่มเติม TEM

   บันทึกที่แล้วได้กล่าวถึงประโยชน์ของ TEM โดยใช้เทคนิค Electron diffraction หรือเทคนิคการวิเคราะห์การจัดเรียงตัวของผลึกในวัสดุ ดังภาพ a) มุมบนขวา โดย Electron diffraction จะมีประโยชน์สำหรับวัดระยะห่างของแต่ละระนาบในผลึก ส่วนคราวนี้เราจะมารู้จักเทคนิค Bright field image และ Dark field image กัน โดยประโยชน์ของมันใช้สำหรับศึกษาลักษณะรูปร่างและขนาดโดยทั่วไปของตัวอย่าง สำหรับเทคนิค Bright field image ส่วนเทคนิค Dark field image ใช้สำหรับศึกษาการจัดเรียงตัวของผลึกในระนาบที่เราสนใจในสารตัวอย่าง

   สำหรับรูปด้านล่างเป็นรูปวัสดุผสมระหว่าง Cu และ Cr ซึ่งภาพถ่าย a) แสดงภาพที่ใช้เทคนิค Bright field image ซึ่งเกิดจากการใช้ Objective aperture ครอบบริเวณจุดสว่างตรงกลาง พบว่าภายในภาพ บริเวณที่สว่างนั้นเกิดจากอิเล็กตรอนในส่วนที่ทะลุผ่าน Objective aperture แต่ในส่วนที่มืดเกิดจากอิเล็กตรอนในส่วนที่มีการเลี้ยวเบนเมื่อผ่านตัวอย่างแล้วถูกบังโดย Objective aperture สำหรับภาพ b) ใช้ Objective aperture ครอบบริเวณที่สนใจโดยมีลูกศรชี้ในภาพ a) มุมบนขวา คือ Cu ระนาบ (200) และ Cr ระนาบ (200) ซึ่งบริเวณที่สว่างแสดงถึงระนาบที่เราสนใจดังที่ได้กล่าวมาแล้ว

Bright field (a) and dark field (b) images of a nanoscaled CuCr composite.

   สำหรับหลักการของเครื่อง TEM นั้นค่อนข้างจะซับซ้อน จึงต้องมีการศึกษาให้ลึกซึ้ง เพื่อสามารถวิเคราะห์ผลออกมาได้อย่างถูกต้องและแม่นยำ